010-87681080
010-87681080
產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
當前位置：首頁
產(chǎn)品中心實驗檢測儀器三維光學(xué)形貌儀
相關(guān)文章
白光干涉3D形貌測量儀具有專業(yè)的測量能力，可在幾秒內(nèi)就完成整個視場的掃描得到測量樣品的3D圖形與高度數(shù)據(jù)，檢測速度與深度量測能力優(yōu)于逐點逐面掃描的共焦掃描顯微鏡，3D圖形量測能力又優(yōu)于掃描式電子顯微鏡的2D平面檢測能力，且不需要使用電子束或雷射，開機快又安全，維護成本更低。
產(chǎn)品型號：PZ-WLI-150
瀏覽量：840
三維光學(xué)形貌儀具有3D測量能力，可在幾秒內(nèi)就完成整個視場的掃描得到測量樣品的3D圖形與高度數(shù)據(jù)，檢測速度與深度量測能力優(yōu)于逐點逐面掃描的共焦掃描顯微鏡，3D圖形量測能力又優(yōu)于掃描式電子顯微鏡的2D平面檢測能力，且不需要使用電子束或雷射，開機快又安全，維護成本更低。
產(chǎn)品型號：PZ-WLI-150瀏覽量：962
Copyright © 2025北京品智創(chuàng)思精密儀器有限公司 All Rights Reserved 備案號：京ICP備19005501號-1
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng)
管理登錄 sitemap.xml
產(chǎn)品分類