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TECHNICAL ARTICLES晶圓表面張力接觸角表面能分析檢測(cè)測(cè)量系統(tǒng)
2019-01-26 晶圓表面分析檢測(cè)測(cè)量系統(tǒng)、晶圓表面張力分析系統(tǒng)晶圓表面分析檢測(cè)測(cè)量系統(tǒng)、晶圓表面張力分析系統(tǒng)詳情:晶圓表面分析檢測(cè)測(cè)量系統(tǒng)、晶圓表面張力分析系統(tǒng)適用于半導(dǎo)體晶圓(Wafer)工藝的質(zhì)量控制。該視頻成像(VCA-Wafer)晶圓表面分析檢測(cè)測(cè)量系統(tǒng)、晶圓表面張力分析系統(tǒng)提供晶圓(Wafers)表面的快速并準(zhǔn)確的接觸角/表面能分析,從而評(píng)估粘性,潔凈度及鍍膜。晶圓表面分析檢測(cè)測(cè)量系統(tǒng)、晶圓表面張力分析系統(tǒng)采用輕量化的設(shè)計(jì)、組裝方便的基于Windows™標(biāo)準(zhǔn)的用戶友好型...橢偏儀SOPRALAB/KLA 在半導(dǎo)體工藝上的應(yīng)用
2019-01-25 公司提供匈牙利Semilab公司SE-2000型、SE-1000光譜型橢偏儀(原法國(guó)Sopra公司GES5-E)。WT-2000型、WT-1200A、WT-1200B型、WT-1000型少子壽命測(cè)試儀、DLS-83D深能級(jí)瞬態(tài)譜儀。SE-2000光譜橢偏儀(原法國(guó)Sopra公司)是的橢偏儀設(shè)備供應(yīng)商,其高精度橢偏儀在半導(dǎo)體、化合物半導(dǎo)體(GaAs/SiC)、LCD和MEMS領(lǐng)域有著非常廣泛的應(yīng)用。目前有超過500臺(tái)的Sopra橢偏儀應(yīng)用在各個(gè)行業(yè)。主要特點(diǎn):高精度的薄膜測(cè)量(...臺(tái)階輪廓測(cè)試儀kia-tencor在半導(dǎo)體的應(yīng)用
2019-01-25 儀器簡(jiǎn)介:應(yīng)用:◆薄膜厚度測(cè)量;◆樣品表面形貌測(cè)量;◆薄膜應(yīng)力測(cè)量;◆樣品表面粗糙度/波紋度測(cè)量;◆樣品表面三維形貌測(cè)量等。技術(shù)參數(shù):KLA-Tenco探針式臺(tái)階儀,可測(cè)量納米級(jí)至2毫米臺(tái)階高度,并可分析薄膜表面粗糙度、波紋度、應(yīng)力,集高測(cè)量精度、多功能性和經(jīng)濟(jì)性于一體,是生產(chǎn)線及材料分析等應(yīng)用領(lǐng)域的理想選擇。因其具有6.0A(1σ)或0.1%臺(tái)階高度重復(fù)性以及分辨率,主要特點(diǎn):◆Alpha-StepIQ采用天然金剛石作為探頭,經(jīng)久耐用。探針更換簡(jiǎn)便、快速,軟件具有保護(hù)測(cè)針以...光學(xué)膜厚儀Filmetrics F20UVX在半導(dǎo)體制造的應(yīng)用
2019-01-25 FilmetricsF20薄膜測(cè)厚儀經(jīng)濟(jì)有效的Filmetrics薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng),測(cè)量薄膜厚度僅需幾秒鐘。Filmetrics系列膜厚測(cè)試儀擁有單點(diǎn)測(cè)量、顯微鏡斑點(diǎn)測(cè)量、自動(dòng)測(cè)繪系統(tǒng)、在線監(jiān)測(cè)等功能型號(hào)的膜厚測(cè)試儀產(chǎn)品。Filmetrics膜厚測(cè)試儀產(chǎn)品輕點(diǎn)鼠標(biāo)就能測(cè)量1納米到13毫米的單層薄膜或多層薄膜堆厚度。幾乎所有的材料都可以被測(cè)量。直觀的設(shè)計(jì)意味著您能在幾分鐘內(nèi)完成個(gè)薄膜厚度測(cè)量!產(chǎn)品介紹:1有五種不同波長(zhǎng)選擇(波長(zhǎng)范圍從紫外220nm至近紅外1700nm);2大樣...Copyright © 2024北京品智創(chuàng)思精密儀器有限公司 All Rights Reserved 備案號(hào):京ICP備19005501號(hào)-1
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